嗨嗨大家好,這裡是九椅特報!
又再度偷懶了好一陣子XDDD
這次就來分享點design小知識好了,這在學校基本上不太可能碰到的項目
Scan chain
Scan chain的定義是將design中所有的DFF串成一路(下圖藍色線),讓所有的電路都可以被toggle,
並用統一的scan clock去trigger,這樣可以使用預先做好的scan pattern依序送入數bit的方法打進Chip中,
接著開始capture mode,讓各個DFF Q pin去trigger各自對應的combo logic,
而下一級的DFF D pin會收到這組combo logic的運算結果,然後capture mode結束,此時每一級combo logic的運算結果都被記錄了起來,
如此在scan output端就可以獲得一組向量,這組向量再與預先計算好的結果(golden data)做比較,這樣就可以知道Chip是否有錯誤了,也可以推論出錯誤的點在哪一級!
再來呢,
由於Scan的兩大重點是 Controllable & Observable
因此我們會藉由Tmax去看看這個design的scan coverage夠不夠高,
這時候Tmax report就會看到許多不同的Fault,這邊就整理個表格給大家參考
舉兩個比較常見的例子
在我們剛剛的圖中Input port並沒有被特別指定說上家的行為是怎麼樣的,
因此就有可能出現兩種狀況: AU or DS
- AU的意思是說,上家的output到我們家的input中間並沒有任何DFF夾在中間,如此就會造成不可測的狀況發生(ATPG untestable)
- DS的意思則是我們已經知道這些input port是可以被測試到的,例如上家的output一定是DFF out或是會灌其他pattern來保證toggle(Detected by simulation)
以上是我對Scan chain的小小見解,
如果在面試過程中有被問Scan相關問題,希望這篇文章內容可以幫助到大家啦!
欸對
另外這邊再分享一個設計IP時的小技巧,主要分以下四點
- Output必須是DFF out -> 如此是為了把時序切乾淨,盡可能不受上下家干擾
- Input皆要過Scan wrapper -> 讓Scan chain順利串入
- Output皆要過Scan wrapper -> 這邊mux一路選擇Stable value主要是怕有任何不穩定的訊號出現會把下家打掛,因此需要與下家溝通怎麼樣的狀況不會使下家行為異常
- Wrapper cell call TSMC or UMC cell -> 這題就當作一個小題目給大家了,歡迎大家留言分享你的想法囉
以上就是這篇文章的內容啦!
有問題的話都歡迎提出來討論喔
善有善報,希望下週開獎給我一個善報>_<
