嗨嗨～大家好，這裡是九椅特報！
又再度偷懶了好一陣子XDDD
這次就來分享點design小知識好了，這在學校基本上不太可能碰到的項目
Scan chain~
Scan chain的定義是將design中所有的DFF串成一路(下圖藍色線)，讓所有的電路都可以被toggle，
並用統一的scan clock去trigger，這樣可以使用預先做好的scan pattern依序送入數bit的方法打進Chip中，
接著開始capture mode，讓各個DFF Q pin去trigger各自對應的combo logic，
而下一級的DFF D pin會收到這組combo logic的運算結果，然後capture mode結束，此時每一級combo logic的運算結果都被記錄了起來，
如此在scan output端就可以獲得一組向量，這組向量再與預先計算好的結果(golden data)做比較，這樣就可以知道Chip是否有錯誤了，也可以推論出錯誤的點在哪一級!
再來呢，
由於Scan的兩大重點是 Controllable & Observable
因此我們會藉由Tmax去看看這個design的scan coverage夠不夠高，
這時候Tmax report就會看到許多不同的Fault，這邊就整理個表格給大家參考
舉兩個比較常見的例子
在我們剛剛的圖中Input port並沒有被特別指定說上家的行為是怎麼樣的，
因此就有可能出現兩種狀況: AU or DS
- AU的意思是說，上家的output到我們家的input中間並沒有任何DFF夾在中間，如此就會造成不可測的狀況發生(ATPG untestable)
- DS的意思則是我們已經知道這些input port是可以被測試到的，例如上家的output一定是DFF out或是會灌其他pattern來保證toggle(Detected by simulation)
以上是我對Scan chain的小小見解，
如果在面試過程中有被問Scan相關問題，希望這篇文章內容可以幫助到大家啦!
欸對~
另外這邊再分享一個設計IP時的小技巧，主要分以下四點
- Output必須是DFF out -> 如此是為了把時序切乾淨，盡可能不受上下家干擾
- Input皆要過Scan wrapper -> 讓Scan chain順利串入
- Output皆要過Scan wrapper -> 這邊mux一路選擇Stable value主要是怕有任何不穩定的訊號出現會把下家打掛，因此需要與下家溝通怎麼樣的狀況不會使下家行為異常
- Wrapper cell call TSMC or UMC cell -> 這題就當作一個小題目給大家了，歡迎大家留言分享你的想法囉~
以上就是這篇文章的內容啦！
有問題的話都歡迎提出來討論喔~
善有善報，希望下週開獎給我一個善報>_<
很棒的分享 數位ic課程也有講到這一塊!
謝謝 有幫助到就好^_^
學長，您好 學長寫的文章真的受益良多 想詢問學長以下關於最後一張圖的兩個問題，還希望學長幫忙解惑@@ 1.scan in 的部分後面是不是應該還會有DFF壓? 2.stable value 是從哪裡來? 謝謝學長
1. 對呀, 它會串過一整路到綠色的DFF 2. 由下家決定, 就是下家要知道這根訊號維持怎麼樣的數值不會打掛他的電路
Hi 學ˋ長 我是二樓學弟 其實我還是有點困惑 首先，scan in的mux後面直接接combination circuit好想有點小怪，因為這樣的你scan in的值在shift進scan chain時，不能有很好的控制 其次，，小弟猜測學長的stable value應該是從scan chain shift過來的吧? 以上是小弟的小小見解，還請學長幫忙review一下，謝謝學長
scan in的mux後面直接接combination circuit好想有點小怪 ->你說的沒錯! 應該是要wrapper後面就直接DFF out, 合成tool應該也是直接把DFF換成一顆帶scan的DFF； 當初會這樣畫純粹只是想說AD DA介面都透過串過wrapper比較乾淨 stable value應該是從scan chain shift過來的吧 ->若都是digital domain的話沒錯, 但上家若不是digital就還是得知道怎麼餵值測scan(for FT pattern)
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